三次元尺寸测量是用三坐标测量机或者三维扫描仪对零件进行形位公差分析检测。武汉易测精密仪器设备有限公司成立于2010年，位于武汉市东湖国家自主创新示范区内，是一家专业从事仪器销售和技 术服务的公司。我们由具备多年行业经验的应用工程师、技术工程师和营销专员组成，致力于为客户提供先进的测量检测仪器，用品质和服务感动客户。
更新时间：2022-12-13
产品型号：Croma121510
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三次元尺寸测量将传统三坐标测量整合了高级非接触式光学白光扫描及影像技术，可专门用于高精度扫描与几何数据采集。
• 采用CWS白光测头系统；
• 采用非接触采点方式，测量全程不产生碰触，不会造成接触形变；
• 具备三坐标空间尺寸测量功能，可以准确完成空间尺寸数据的量测（轮廓度等）；
• 具有连续扫描功能，效率高。高速扫描—最高达到1000点/秒；
1. 多通道并行的数据处理
CWS+CCD同步测量处理数据；软件通过特有的光学及图像处理技术，将视觉与白光技术整合了一起，既能测量工件的3D尺寸轮廓位置，又能兼顾2D外形尺寸。
2. 高点扫描
因为特定类型攻坚的边缘很多是尖点，直接触发测量无法精确得到最外侧的数值，所以软件使用高点扫描方式，通过在边缘面上扫描曲线并构造极值点来得到精确的数值。
3. 厚度测量
白光在测量表面点的同时，可以同时输出元素的厚度。主要有：点、直线、平面、曲线等元素的厚度。
4. 高斯曲线滤波
滤波可以通过定义滤波类型有选择地删除测量异常点。
支持测量轮廓度图形报告，并输出曲线的最大最小值,同时能够自动保存PDF、excel. text等 多种形式的报告。
• 使用CWS白光测头系统
• 采用非接触采点方式，测量全程不产生碰 触，不会造成接触形变
• 具备三坐标空间尺寸测量功能，可以准确 完成空间尺寸数据的量测（轮廓度等）
• 具有连续扫描功能，效率高。 高速扫描—最高达到1000点/秒
